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可靠性与测试 GaN器件 可靠性分析 ★ 4.0

自监测高可靠性254 nm AlGaN紫外杀菌集成模块

Self-Monitoring High-Reliability 254 nm AlGaN Integrated Module for Ultraviolet Bacterial Inactivation

作者未知 · IEEE Electron Device Letters · 2025年1月

传统的254 nm汞灯存在严重局限性,包括环境污染和使用寿命短等问题。为取代它们,本研究致力于开发内量子效率达84.0%的254 nm氮化铝镓(AlGaN)发光二极管(LED),并提出一种能够实时监测光输出功率(LOP)的LED与光电探测器(PD)集成器件。优化后的集成器件表现出卓越性能:在零偏压下,光电流与暗电流之比超过10⁵,自驱动光电探测器的响应度、比探测率和外量子效率分别为5.44 A/W、1.72×10¹¹ Jones和2659%。此外,我们封装了一个高功率4×4 LED - PD阵列...

解读: 从阳光电源新能源综合解决方案的业务视角来看,这项254nm深紫外AlGaN集成模块技术虽非直接应用于光伏发电或储能系统,但在清洁能源生态系统的扩展应用场景中具有战略价值。 该技术的核心突破在于LED-PD集成架构实现了自监测功能,这与阳光电源在逆变器、储能系统中强调的智能监控理念高度契合。84%的...