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储能系统技术 储能系统 SiC器件 ★ 5.0

再生长层厚度和氮浓度对垂直金刚石MOSFET低漏极电压下电流失效影响

Effects of Regrown Layer Thickness and Nitrogen Concentration on Current Rise at Low Drain Voltage in Vertical Diamond MOSFET

Kosuke Ota · Koji Amazutsumi · Runming Zhang · Yuta Nameki 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年9月

由于具有优异的物理特性,金刚石是一种很有前景的功率器件材料,而垂直 p 沟道场效应晶体管(FET)对于实现下一代互补逆变器至关重要。在本研究中,我们利用氢终端金刚石表面诱导的二维空穴气(2DHG)制造了一个(001)垂直金刚石 MOSFET。该器件采用了一种沟槽结构,其在硼掺杂金刚石(p +)衬底中的过刻蚀深度为 1.5 微米。然而,在低电压区域(−4 V ≤ VDS ≤ 0 V)观察到漏极电流上升受到抑制。为了探究其原因,我们对沟槽型横向器件进行了测量,在这类器件中电流不经过再生长层,且在低电...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项金刚石垂直MOSFET技术研究代表了功率半导体器件领域的前沿探索,对我们的光伏逆变器和储能系统具有长远战略意义。 金刚石作为第四代半导体材料,其优异的物理特性——极高的击穿电场强度、热导率和载流子迁移率——使其在高功率密度应用中具有革命性潜力。该研究通过氢终端表面诱导...