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基于外壳温度波形相似性的SiC MOSFET加速功率循环试验在线老化监测

Case Temperature Waveform Similarity-Based Online Aging Monitoring for SiC MOSFETs of Accelerated Power Cycling Tests for DC-SSPCs

Bin Yu · Xingjian Shi · Ze Zhou · Enyao Xiang 等6人 · IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics · 2024年12月

针对直流固态功率控制器(dc-SSPC)中SiC MOSFET的在线状态监测对提升系统可靠性至关重要。传统电参数监测方法需高精度电路与复杂控制系统,易干扰正常运行。本文提出一种基于绝缘温度传感器测量的非电参量——外壳温度,用于在线监测SiC MOSFET老化状态。通过改进的余弦相似性分析温度波形,定义了meacosk与stdcosk两个老化特征参数,可有效追踪器件整体老化趋势,并灵敏反映键合线与焊料层严重老化,无需依赖电参数。实验验证了该方法的有效性,提升了无损、在线监测的实用性,为故障诊断与预...

解读: 该基于外壳温度波形相似性的SiC MOSFET在线老化监测技术对阳光电源ST系列储能变流器及SG系列光伏逆变器具有重要应用价值。相比传统电参数监测,该方法采用非侵入式温度传感器,无需高精度电路改造,可直接集成至PowerTitan储能系统的功率模块中,实现SiC器件键合线与焊料层老化的早期预警。me...