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储能系统技术 储能系统 可靠性分析 ★ 5.0

通过厚度调控抑制Hf0.2Zr0.8O2薄膜在电循环中的相变

Suppressing Phase Transition in Antiferroelectric Hf0.2Zr0.8O2 Films During Electrical Cycling by Thickness Scaling

Haoji Qian · Rongzong Shen · Minglei Ma · Miaomiao Zhang 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年9月

在电循环过程中,反铁电(AFE)到铁电(FE)的相变(PT)会降低氧化锆(ZrO₂)基反铁电器件的储能性能和存储可靠性,限制了它们在微电子领域的应用。在这项工作中,我们研究了20%铪(Hf)掺杂的ZrO₂(Hf₀.₂Zr₀.₈O₂)反铁电薄膜在电循环过程中极化特性随厚度的演变。厚度缩放能有效抑制反铁电到铁电的相变,经过10⁸次电循环后,10纳米、8纳米和6纳米的Hf₀.₂Zr₀.₈O₂薄膜的相变程度分别为86.2%、27.9%和8.0%。结构分析表明,从10纳米到6纳米,微晶尺寸减小了43.58...

解读: 从阳光电源储能系统和功率电子产品的技术演进角度看,这项关于反铁电氧化铪锆薄膜的研究具有重要的前瞻价值。该研究通过厚度调控有效抑制了反铁电到铁电的相变退化,为高可靠性储能器件和嵌入式存储器提供了新的材料解决方案。 对于阳光电源的储能业务,这项技术的潜在价值体现在两个层面。首先,反铁电材料具有优异的能...