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工频测试中氧化锌压敏电阻的波形畸变：起源及其对平均功耗的影响
Waveform Distortions During Power Frequency Testing of Metal Oxide Varistors: Their Origin and Effect on Average Power Dissipation
Eric P. Nied · Stephen F. Poterala · Xingniu Huo · Dustin L. Sullivan · IEEE Transactions on Power Delivery · 2025年12月 · Vol.41
本文揭示了MOV在工频测试中因电源内阻引发的电压波形畸变现象，指出其显著降低平均功耗测量值，可能导致IEEE C62.11/IEC 60099-4标准测试误判。实验表明，畸变程度取决于发电机阻抗与电流幅值，轻微畸变（THD≈2%）即可导致功耗低估33%，影响TOV耐受能力验证。
解读: 该研究对阳光电源组串式逆变器、ST系列PCS及PowerTitan储能系统中内置的MOV型过压保护器件可靠性验证具有直接指导意义。工频暂态过电压（TOV）耐受能力是逆变器和PCS通过LVRT/HVRT认证的关键指标，若测试电源畸变未校正，将导致MOV选型偏保守或误判失效风险。建议在iSolarClo...