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功率器件技术 SiC器件 功率模块 宽禁带半导体 ★ 5.0

6.5kV碳化硅MOSFET栅极偏置对宽温度范围内反向恢复特性的影响

Impact of 6.5-kV SiC MOSFET Gate Bias on Reverse Recovery Over a Wide Temperature Range

Xinyuan Du · Ahmed Ismail · Eric Allee · Abu Shahir Md Khalid Hasan 等10人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年12月

本文研究了6.5kV碳化硅(SiC)平面MOSFET在室温至175°C范围内,负栅极偏置对其反向恢复行为的影响。文章对比了低压与中压SiC器件在不同栅极偏置下的第三象限特性差异,并深入探讨了负栅极偏置对电导调制及反向恢复过程的作用机制。

解读: 该研究针对6.5kV高压SiC器件,直接关联阳光电源在大型地面光伏电站及高压储能系统(如PowerTitan系列)中的核心功率模块技术。随着系统电压等级向1500V甚至更高迈进,高压SiC器件的应用是提升功率密度和转换效率的关键。文章关于负栅极偏置对反向恢复影响的分析,对优化阳光电源组串式逆变器及储...