High Voltage · Arab Baferani · Springer International Publishing · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.127

采用导电原子力显微镜（C-AFM）研究高功率表面闪络在用于高击穿介电应用的环氧纳米复合材料上产生的表面电痕（与电树枝密切相关）中是否存在导电副产物。结果表明，仅依靠形貌测量不足以明确识别导电性表面电痕；而通过 mapping 从C-AFM探针流入样品的直流电流，可揭示出比邻近基体材料电阻低三个数量级的导电通道。通过逐步增加施加电压验证了其欧姆行为，为直接量化和 mapping 电击穿诱导表面电痕的电导分布提供了独特方法，并有望拓展至体相电树枝的研究。

解读: 该纳米级电导率测量技术对阳光电源高压绝缘系统具有重要应用价值。在ST系列储能变流器和SG系列1500V光伏逆变器中，环氧树脂材料广泛用于功率模块封装、母排绝缘和高压连接器。研究揭示的C-AFM表面电痕检测方法可用于：1）功率模块封装材料的耐电痕性能评估，预防SiC/GaN器件高频高压应用中的绝缘失效...