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基于动态校正控制与参数设计的MMC子模块测试系统扰动抑制
Disturbance Suppression for Testing System of Submodules in MMC by Dynamic Correction Control and Parameter Design
Enyi Li · Ke Ma · Lingqi Tan · Xu Cai 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年10月
为低成本、高精度地完成模块化多电平变换器(MMC)子模块(SM)的先进测试,任务剖面仿真(MPE)技术成为一种极具前景的方案。该技术通过模拟MMC的实际运行工况来测试少量SM。然而,MPE在SM工作于最近电平逼近调制(NLM)等工况时,常面临扰动抑制难题。本文提出了一种动态校正控制策略与参数设计方法,以提升测试系统的精度与稳定性。
解读: 该技术对阳光电源的集中式逆变器及大型储能系统(如PowerTitan系列)的研发具有重要参考价值。MMC拓扑常用于高压大功率场景,通过MPE技术在实验室环境下模拟真实电网工况,可显著降低大型电力电子设备的测试成本并缩短研发周期。建议研发团队关注该动态校正控制方法,将其应用于功率模块的可靠性加速寿命测...