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揭示永磁体封装二极管的表面形貌及反向电流抑制
Revealing Surface Morphology and Suppression of Backward Current in Diodes Packaged With Permanent Magnet
Tian-Ze Miao · Ren-Zhen Xiao · Yan-Chao Shi · Jun Cheng 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年9月
目前,二极管中的反流是限制永磁封装高功率微波(HPM)器件应用的一个重要因素。本文通过实验观察了反流导致的二极管典型形态变化,如阴极杆表面的附着形态、微损伤以及溅射产物的成分。结合粒子模拟,揭示了反流与典型形态变化之间的联系,阐明了阳极对二极管稳定性的重要影响。最后,从减缓阳极等离子体运动的角度出发,在阳极上设计了一种静电屏蔽槽结构(ESGS)。实验证明,该方法能有效抑制反流,提高二极管的稳定性。
解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于抑制二极管反向电流的研究虽然聚焦于高功率微波器件领域,但其底层技术原理对我们在功率电子器件可靠性提升方面具有重要的借鉴意义。 在光伏逆变器和储能变流器等核心产品中,功率二极管作为关键器件,其反向漏电流特性直接影响系统效率和长期可靠性。该研究通过实验观察和粒子模拟揭...
多晶硅/4H-SiC功率异质结在反向偏压应力下场致发射隧穿电流的反常减小
Anomalous Decrease of Field-Emission Tunneling Current for Poly-Si/4H-SiC Power Heterojunction Under Reverse Bias Stress
Hao Fu · Zilong Wu · Xiangrui Fan · Xinyu Zhang 等6人 · IEEE Electron Device Letters · 2025年6月
首次通过实验验证了低势垒多晶硅(Poly - Si)/4H - 碳化硅(4H - SiC)异质结的可靠性。该异质结分别在 500 A/cm²的正向电流密度和 1 MV/cm 的反向电场下表现出卓越的长期正向导通和反向阻断可靠性,这对于功率应用至关重要。在 1.2 kV 级 4H - SiC 外延层上制备了纯功率异质结,其势垒高度为 0.804 eV,理想因子为 1.026。创新性地发现,异质结反向电流(<inline - formula xmlns:mml="http://www.w3.org/...
解读: 从阳光电源功率半导体器件应用角度来看,这项Poly-Si/4H-SiC异质结技术具有重要的战略参考价值。该研究首次系统验证了低势垒异质结在1.2kV级应用中的长期可靠性,在500A/cm²正向电流密度和1MV/cm反向电场条件下表现出色的稳定性,这直接契合我司光伏逆变器和储能变流器中功率开关器件的工...