一种考虑非线性动态行为的功率MOSFET剩余使用寿命数据驱动预测方法

A Data-Driven Remaining Useful Life Prediction Method for Power MOSFETs Considering Nonlinear Dynamical Behaviors

作者未知 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年1月

近年来，功率金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）的 prognostics and health management（PHM）技术正受到越来越多的关注。目前已经开发并应用了多种方法来对功率 MOSFET 进行寿命预测。然而，当前大多数研究似乎在全面理解非线性动态退化过程方面存在局限性。单一参数导向的预测方法可能会忽略退化过程中更深层次的动态行为。此外，这些方法无法处理诸如突然上升等异常退化路径。鉴于这些局限性，本文开发了一种考虑非线性动态行为的数据驱动预测方法。为了分析非线性和混沌特性...

解读: 从阳光电源的业务视角来看，这项针对功率MOSFET的剩余寿命预测技术具有重要的战略价值。功率MOSFET作为光伏逆变器和储能变流器中的核心开关器件，其可靠性直接影响系统的稳定运行和全生命周期成本。 该研究的创新之处在于突破了传统单参数预测方法的局限性，通过相空间重构和李雅普诺夫指数等非线性动力学工...