找到 1 条结果

排序:
功率器件技术 SiC器件 可靠性分析 ★ 5.0

一种基于等效栅极电阻控制的SiC MOSFET结温波动抑制方法

An Equivalent Gate Resistance Control Method for Junction Temperature Fluctuation Suppression in SiC MOSFETs

王若隐郑宏 · 中国电机工程学报 · 2025年12月 · Vol.45

非平稳工况下的结温波动是影响碳化硅(SiC)MOSFET可靠性的关键因素。本文提出一种等效栅极电阻控制方法,克服了在线连续调节驱动电阻的难题,并在此基础上设计了一种通过调节开关损耗来抑制结温波动的主动热管理策略,推导了结温调节范围。通过搭建逆变器实验平台验证了理论分析的正确性。实验结果表明,该方法可显著降低SiC MOSFET在不同功率波动阶段的结温波动,最大波动由18.83℃降至9.85℃,器件寿命提升约2.18倍。同时,考虑系统效率,引入温控操作区间与结温控制系数概念,并通过实验验证了方法的...

解读: 该等效栅极电阻控制方法对阳光电源SiC器件应用产品线具有重要价值。首先可应用于SG350HX等大功率光伏逆变器,通过主动热管理提升SiC MOSFET可靠性,延长产品寿命。其次可优化ST2752KWH等储能变流器的温度控制策略,在大功率波动工况下保障器件安全。此外,该方法也适用于DC充电桩等快充场景...