找到 4 条结果 · 功率器件技术

排序:
功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

一种考虑工作温度的碳化硅(SiC) MOSFET模块短路保护新方案

A Novel Short-Circuit Protection Scheme for Silicon Carbide (SiC) MOSFET Module Considering Operation Temperature

Yang Wen · Yuan Yang · Yan Li · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年8月

碳化硅(SiC) MOSFET凭借高开关速度和低损耗优势,在电力电子领域应用广泛。然而,其有限且随温度变化的短路耐受能力是制约其大规模应用的关键瓶颈。本文提出了一种基于功率评估的短路保护(SCP)新方案,旨在有效提升SiC器件在不同温度下的运行可靠性。

解读: 该研究直接针对SiC MOSFET的短路保护瓶颈,对阳光电源的组串式逆变器、PowerTitan/PowerStack储能变流器及风电变流器等核心产品具有极高的应用价值。随着公司产品向更高功率密度和更高效率迭代,SiC器件的应用比例持续提升,但其短路耐受时间短、对温度敏感等特性对驱动电路设计提出了严...

功率器件技术 IGBT 可靠性分析 深度学习 ★ 5.0

基于LSTM网络的IGBT结温时间序列特性表征方法

A Time Series Characterization of IGBT Junction Temperature Method Based on LSTM Network

Zheng-Wei Du · Yu Zhang · Yuankui Wang · Zhiyuan Chen 等9人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年1月

准确的结温表征对IGBT模块的性能优化与可靠性设计至关重要。针对现有方法多关注特定时刻温度预测而非时间序列变化的问题,本文提出了一种基于长短期记忆(LSTM)网络的方法,通过捕捉结温的时间演变特征,实现了对IGBT结温的精确追踪与表征。

解读: IGBT是阳光电源光伏逆变器、储能变流器(PCS)及风电变流器的核心功率器件。结温直接决定了器件的寿命与系统的可靠性。该研究利用LSTM网络实现结温的时间序列追踪,可深度集成于iSolarCloud智能运维平台,实现对组串式逆变器及PowerTitan/PowerStack储能系统内部功率模块的实时...

功率器件技术 GaN器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 4.0

一种基于dVDS/dt检测的具有自适应消隐时间生成的GaN HEMT短路保护电路

A GaN HEMT Short-Circuit Protection Circuit With Adaptive Blanking Time Generation Based on dVDS/dt Detection

Jiahui Lv · Yuan Yang · Yang Wen · Xingfeng Du 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2026年4月

氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT)的短路保护对电力电子系统的可靠性至关重要。传统的去饱和检测法依赖于固定的消隐时间,若设置过长会导致短路期间功率损耗增加,引发热积累。本文提出了一种基于漏源电压变化率(dVDS/dt)检测的自适应消隐时间生成电路,旨在优化保护响应速度,提升GaN器件在短路故障下的可靠性。

解读: 随着阳光电源在户用光伏逆变器及小型化储能产品中对高功率密度要求的提升,GaN器件的应用潜力巨大。该研究提出的自适应短路保护技术,能够有效解决GaN器件在极端故障工况下的热应力问题,提升系统可靠性。建议研发团队关注该技术在下一代高频、高效率组串式逆变器及微型逆变器中的应用,通过优化驱动电路设计,在保证...

功率器件技术 可靠性分析 功率模块 ★ 2.0

基于电压斜坡触发的马克思发生器电路中雪崩晶体管单脉冲失效研究

Investigation on Single Pulse Failure of Avalanche Transistors Triggered by Voltage Ramps in Marx Bank Circuits

Kaijun Wen · Lin Liang · Haoyang Fei · Ziyang Zhang 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年9月

本文研究了基于雪崩双极结型晶体管(ABJT)的马克思发生器电路(MBC)中,由不同电压上升率(dV/dt)触发导致的器件失效问题。通过分析ABJT在单脉冲下的退化与失效特征,揭示了电压斜坡触发对器件可靠性的影响机理,为高压脉冲电源系统的设计与可靠性评估提供了理论依据。

解读: 该研究聚焦于雪崩晶体管在极端脉冲条件下的失效机理,属于功率电子器件的底层物理特性研究。虽然阳光电源的核心产品(如组串式逆变器、PowerTitan储能系统)主要采用IGBT、SiC等主流功率模块,而非雪崩晶体管,但该研究中关于dV/dt引起的器件应力分析和可靠性评估方法,对于提升阳光电源在复杂工况下...