← 返回
单相电流型双有源桥DC/DC变换器的开路故障容错方案
An Open-Circuit Fault-Tolerant Scheme for Single-Phase Current-Fed Dual-Active-Bridge DC/DC Converter
| 作者 | Yue Zhang · Nie Hou · Zheng Wang · Yunwei Li |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2025年3月 |
| 技术分类 | 拓扑与电路 |
| 技术标签 | DAB 双向DC-DC 可靠性分析 故障诊断 |
| 相关度评分 | ★★★★ 4.0 / 5.0 |
| 关键词 | 电流型 双有源桥 DC-DC变换器 容错 可靠性 开路故障 |
语言:
中文摘要
针对工业应用中高可靠性的需求,本文提出了一种针对单相电流型双有源桥(DAB)DC/DC变换器的开路故障容错方案。由于该拓扑结构具有低冗余和非对称性,传统的容错控制难以直接应用。该研究通过改进控制策略,有效提升了变换器在功率器件故障下的运行可靠性。
English Abstract
Power interruptions are intolerable in many industrial applications, so high reliability becomes exceedingly pivotal to power converters. Fault-tolerant schemes attract more attention as an effective approach to improve reliability. However, due to the low-device-redundancy and asymmetrical structure, fault-tolerant schemes have not yet been reported on the single-phase current-fed dual-active-bri...
S
SunView 深度解读
该技术对阳光电源的储能系统(如PowerTitan、PowerStack系列)及直流耦合光储一体化方案具有重要参考价值。DAB拓扑是双向DC-DC变换器的核心,提升其在功率器件开路故障下的容错能力,能显著增强储能变流器(PCS)在极端工况下的运行稳定性,降低运维成本。建议研发团队关注该容错控制算法,将其集成至iSolarCloud智能运维平台,以实现故障的实时诊断与自动切换,从而提升产品全生命周期的可靠性。